高压介损试验
摘要:第参章介损、高压介损试验电介质在交流电压作用下，除电导和周期性缓慢极化引起的损耗外，有时可能产生游离损耗，即电晕和局部放电损耗，这些损耗统称为介质损耗。介质损耗因数tgδ的测量，习惯上简称“介损试验”。介质损耗因数tgδ测试介质损耗因数tgδ是反映绝缘性能的基本指标之一。介质损耗因数tgδ反映绝缘损耗的特征参数，它可以很灵敏地发现电气设备绝缘整体受潮、劣化变质以及小体积设备贯通和未贯通的局部缺陷。介质损耗因数tgδ与绝缘电阻和泄漏电流的测试相比具有明显的优点，它与试验电压、试品尺寸等因素无关，更便于判断电气设备绝缘变化情况。因此介质损耗因数tgδ为高压电气设备绝缘测试的最基本的试验之一。介质损耗因数tgδ可以有效的发现绝缘的下列缺陷：（1）受潮；（2）穿透性导电通道；（3）绝缘内含气泡的游离，绝缘分层、脱壳；（4）绝缘有脏污、劣化老化等。一、测量原理介质在交流电压作用下的情况如图3-1(a)所示，Ì=ÌR+ÌCÌÌRÌCÌCXÙÌRÙCRÌCδÙ（a）（b）（c）图3-1绝缘介质在交流电压作用下的电路图和相量图（a）电路示意图(b)等值电路图(c)相量图通常把绝缘介质看成由一个等值电阻R和一个等值无损耗电容C并联组成的电路，如图3-1（b）所示，通过介质的总电流Ì是由通过R的有功电流ÌR和通过C的无功电流 ÌC所组成。ÌR流过电阻R所产生的功率代表全部的介质损耗,ÌR越大,介质损耗越大。由ÌR、ÌC和Ì所组成的相量图如31(c)所示，从图中可以看出ÌR的大小与Ì和ÌC之间的夹角δ有关，δ越大，ÌR越大，因此，称δ为介质损失角。从图中可得出：介质损耗P与介
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