pdf文档 MEMORY存储芯片SN74AVC1T45DCKR中文规格书

专业资料 > IT&计算机 > 互联网 > 文档预览
5 页 1068 浏览 19 收藏 4.6分

摘要:8ParameterMeasurementInformation2×VCCOS1RLFromOutputUnderTestOpenGNDCL(seeNoteA)TESTS1tpdtPLZ/tPZLtPHZ/tPZHOpen2×VCCOGNDRLtwLOADCIRCUITVCCIVCCI/2InputVCCOCLRLVTP1.2V1.5V±0.1V1.8V±0.15V2.5V±0.2V3.3V±0.3V15pF15pF15pF15pF15pF2kW2kW2kW2kW2kW0.1V0.1V0.15V0.15V0.3VVCCI/20VVOLTAGEWAVEFORMSPULSEDURATIONVCCAOutputControl(low-levelenabling)VCCA/2VCCA/20VtPZLVCCIInputVCCI/2VCCI/20VtPLHOutputtPHLVOHVCCO/2VOLVCCO/2tPLZVCCOOutputWaveform1S1at2×VCCO(seeNoteB)VCCO/2VOL+VTPVOLtPZHOutputWaveform2S1atGND(seeNoteB)VOLTAGEWAVEFORMSPROPAGATIONDELAYTIMEStPHZVCCO/2VOH−VTPVOH0VVOLTAGEWAVEFORMSENABLEANDDISABLETIMESNOTES:A.CLincludesprobeandjigcapacitance.B.Waveform1isforanoutputwithinternalconditionssucht

温馨提示:当前文档最多只能预览 5 页,若文档总页数超出了 5 页,请下载原文档以浏览全部内容。
本文档由 匿名用户2021-02-23 01:30:11上传分享
你可能在找
本站APP下载(扫一扫)
活动:每周日APP免费下载全站文档
本站APP下载
热门文档