关于射频微波去嵌入技术的调研
摘要:关于射频微波去嵌入技术的调研在微波射频电路中,一个不可避免的问题就是测量电路或者器件的参数,由于高频电路的特殊性,对于器件参数的测量要求很苛刻,为了使测量的指标和实际的情形十分接近,我们需要考虑很多因素对测量系统的影响,其中最重要的因素之一就是夹具的去嵌入问题,下面就国内外在去嵌入技术上的重大突破做一下调研。对于微波有源器件建模和性能特性测量,矢量网络分析仪发挥了重要作用,以矢量网络分析仪为核心的有源器件和MMIC自动测试系统得到了快速发展。矢量网络分析仪等测量仪器的测试端口或者参考面一般为标准同轴连接器或波导,如3.5mm和2.4mm同轴连接器,有源器件如微波晶体管、场效应管和二极管等一般为未封装的管芯或梁式引线封装,在被测有源器件和测量仪器之间必须引入测量夹具予以转换。测量夹具的引入解决了有源器件的直流偏置、信号激励与检测的问题但同时引入了测量误差,去除有源器件测量夹具引入的误差必须进行去嵌入运算。矢量网络分析仪测量有源器件事先必须进行测量校准,一般在矢量网络分析仪的同轴测量端口或波导测量端口采用OSLT校准方法或TRL校准方法进行校准,可以去除矢量网络分析仪本身的系统误差,从而提高测量精度;另一种测量校准方法就是在测量夹具上进行测量校准,如TRL、LRL、LRM、TOM、SOLD和OSL等校准方法,这些校准方法都有一个共同的特点就是需要一个微带或共面波导等平面传输线制成的校准件,把测量夹具引入的误差作为整个矢量网络分析仪的系统误差,通过在微带或共面波导参考面上进行测量校准和误差修正和误差修正予以剔除。微带型或共面波导型校准件存在两个方面的问题:一是
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本文档由 匿名用户 于 2022-08-31 23:19:56上传分享